Les techniques de spectroscopies électroniques ont beaucoup évolué ces dix dernières années. Ceci est notamment dû à la disponibilité d’instrumentation avancée pour les méthodes de photoémission (micro-sondes X, analyse angulaire parallèle, profilage en profondeur avec sources à clusters d’ions, analyses à pression ambiante, ARPES, analyses résolues en spin…), de microscopies sensibles à la surface (nano-sondes Auger, PEEM, spectro-microscopie XPEEM, …) et de par l’utilisation croissante des sources synchrotron de 3e génération (ultra-haute résolution en énergie, nano-faisceaux, résolution temporelle, utilisation d’X-durs). En même temps, des techniques connexes, plus confidentielles, mais pour autant importantes dans la compréhension des surfaces et des interfaces sont toujours de mise : diffraction de photoélectrons, spectroscopie de pertes d’énergie haute-résolution, photoémission inverse, microscopie d’électrons lents (LEEM).
Toute cette richesse de techniques et méthodes d’analyse utilisant les spectroscopies d’électrons est présente en France, depuis les laboratoires académiques et plateformes d’analyse de matériaux jusqu’aux centres industriels de R&D. Le potentiel du parc analytique français est donc important au niveau européen (ne serait-ce qu’avec la présence de deux centres de rayonnement synchrotron sur le territoire) et l’évolution de certains domaines est rapide.
L’objectif du Comité Spectroscopies d’Electrons est de rassembler et de structurer une communauté nationale et francophone de spécialistes et d’utilisateurs des spectroscopies d’électrons au sens large, ouverte au niveau européen et soucieuse de diffuser de manière dynamique les innovations scientifiques et techniques en cours.