A PROPOS

Conférenciers invités

	Simulations de spectres XPS pour une meilleure connaissance des surfaces désordonnées Thomas Duguet CIRIMAT, Toulouse Résumé		La spectroscopie de photoélectrons par rayons X comme outil de caractérisation de choix des bio-interfaces Vincent Humblot Femto-ST, Besançon Résumé
	FOCUS THEMATIQUE XPS operando pour élucider des réactions électrochimiques complexes dans les batteries tout solide Mario El-Kazzi Paul Scherrer Institute, Villingen, Suisse Résumé		FOCUS THEMATIQUE XPS environnementale : état de l’art et perspectives François Rochet LCPMR, Sorbonne-Univesité, Paris Résumé

	Quantification par XPS et instrumentation Vincent Fernandez Institut Jean Rouxel, Nantes Résumé

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