A PROPOS

JSE 2018, 23-24 janvier à Strasbourg

Cette première édition des JSE fait suite à une préfiguration à petite échelle qui s’est tenue à Paris le 17 et 18 mai 2017, rassemblant environ 50 participants.

Les Journées des Spectroscopies d’Electrons (JSE) SFV-SFP visent à rassembler annuellement de façon dynamique, dans un format court, la communauté nationale des spécialistes et des utilisateurs des spectroscopies d’électrons prises au sens large : photoémission, émission Auger et microscopies associées ; techniques de LEEM, REELS et HREELS ; rayonnement synchrotron…

Les Journées se sont tenues en partenariat étroit avec les Journées Surfaces et Interfaces (JSI) qui se sont déroulées à la suite, dans le même lieu (facilités d’inscriptions sur les deux évènements JSE et JSI).

Elles se sont articulées autour d’exposés invités, contributeurs, et posters qui ont donné un panorama des approches innovantes et des résultats marquants actuels.
Un Focus Thématique sur l’imagerie a donné un panorama complet sur les méthodes actuelles d’imagerie et microscopie par émission d’électrons (principes de base, apports et champs d’application), grâce à l’intervention de spécialistes du domaine.

Merci aux 65 participants, aux orateurs du Focus Thématique « Imagerie », aux 7 sociétés exposantes (AxessTech, Kratos Analytical, Physical Electronics, Scienta Omicron, Scientec, Specs, Thermo Scientific) et à l’équipe locale d’organisation !

CONFÉRENCIERS INVITÉS / PROGRAMME ET THÈMES / SPONSORS-EXPOSANTS / PROGRAMME SOCIAL/ PHOTOS

Contributions Keynote

	Dopages, défauts et ségrégations au sein d'oxydes métalliques : apports de la diffraction de photoélectrons et de la photoémission résonante Bruno Domenichini ICB, Université de Bourgogne-Franche Comté		Etude des états de surfaces électrocatalytiques : l'XPS, un outil de choix ? Teko Napporn IC2MP, Université de Poitiers
	Que pouvons-nous apprendre de la détection de spin d’électron résolue en temps ? Christine Richter Département de Physique, Université de Cergy-Pontoise		Apport de l’analyse de surface à l’étude de contacts tribologiques Clothilde Minfray LTDS/EC-Lyon, INL

Programme scientifique et thèmes abordés

Programme des journées en téléchargement

Mardi 23 janvier : 10h à 18h suivi du diner de gala

Mercredi 24 janvier : 8h30 à 12h30

	Techniques de spectroscopie électronique et instrumentation associée
	Spectroscopie de Photoélectrons (XPS)
	Spectroscopie d’électrons Auger (AES) et imagerie par miro-/nanosonde électronique
	Photoémission par rayonnement synchrotron (PES, HAXPES, NAP-XPS, …)
	Photoémission résolue en angle (ARPES), en spin, et photoémission inverse
	Spectroscopie de perte d’énergie haute-résolution (HREELS)
	Microscopies sensibles à la surface : XPS par balayage, XPEEM, LEEM-PEEM, EPES
	Nouveaux développements

	Matériaux et systèmes aux frontières
	Matériaux bi-dimensionnels
	Hétérostuctures multiferroïques
	Epitaxie avancée
	Bio-surfaces
	...

	Applications
	Matériaux fonctionnels
	Nouvelles technologies de l’énergie
	Catalyse et fonctionnalisation de surface
	Micro- et nanoélectronique
	...

Focus thématique

Un Focus Thématique sur l’imagerie donnera un panorama complet sur les méthodes actuelles d’imagerie et microscopie par émission d’électrons (principes de base, apports et champs d’application), grâce à l’intervention de spécialistes du domaine. Dans cette dernière partie des Journées, une place importante sera accordée aux échanges de manière à répondre aux questions des futurs utilisateurs.

Principes et Applications des Spectromicroscopies d’Electrons (LEEM, PEEM, XPEEM)
Nick Barrett
CEA-IRAMIS, Saclay
Spectroscopie et imagerie par nano-sonde Auger avancée
Eugénie Martinez
CEA-LETI, Grenoble
Imagerie EPES
Christine Robert-Goumet
Université Blaise Pascal, Clermont-Ferrand
Tout ce que nous pouvons apprendre des nano-objets au-delà du graphène, en utilisant l’imagerie par faisceau synchrotron"
Maria-Carmen Asensio
Synchrotron SOLEIL, Université Paris -Saclay