A PROPOS

JSE 2019, 22-23 janvier à Nancy

Cette seconde édition des JSE qui s'est tenue à l'Institut Jean Lamour de Nancy a de nouveau rassemblée la communauté nationale des spécialistes et des utilisateurs des spectroscopies d’électrons prises au sens large : photoémission, émission Auger et microscopies associées ; techniques de LEEM, REELS et HREELS ; rayonnement synchrotron…

Les Journées se sont tenues en partenariat étroit avec les Journées Surfaces et Interfaces (JSI) qui se sont déroulées à la suite, dans le même lieu (facilités d’inscriptions sur les deux évènements JSE et JSI).

Elles se sont articulées autour d’exposés invités, contributeurs, et posters qui ont donné un panorama des approches innovantes et des résultats marquants actuels.

Merci aux 64 participants et aux 7 sociétés exposantes (Cryoscan, Kratos Analytical, Physical Electronics, Scienta Omicron, Scientec, Specs, Thermo Scientific) et à l’équipe locale d’organisation !

CONFÉRENCIERS INVITÉS / PROGRAMME ET THÈMES / SPONSORS-EXPOSANTS / PROGRAMME SOCIAL/ PHOTOS

Contributions Keynote

	Photoémission angulaire et photoémission résolue en spin sur CASSIOPEE Patrick Le fevre SOLEIL, Saint-Aubin Résumé		Etudes d’électrocatalyse en mode operando : apports de la NAP-XPS Elena Savinova ICPEES, Strasbourg Résumé

	XPS/AES/ToF-SIMS, un cluster pertinent de techniques d’analyse au service de l’étude des batteries Li-ion. Eric De Vito CEA-LITEN, Grenoble Résumé		Photoémission avancée avec sources laser Claude Monney Université de Fribourg Résumé

Programme scientifique et thèmes abordés

Programme des journées en téléchargement

Mardi 22 janvier : 10h à 18h suivi du diner de gala

Mercredi 23 janvier : 8h30 à 12h30

	Techniques de spectroscopie électronique et instrumentation associée
	Spectroscopie de Photoélectrons (XPS)
	Spectroscopie d’électrons Auger (AES) et imagerie par miro-/nanosonde électronique
	Photoémission par rayonnement synchrotron (PES, HAXPES, NAP-XPS, …)
	Photoémission résolue en angle (ARPES), en spin, et photoémission inverse
	Spectroscopie de perte d’énergie haute-résolution (HREELS)
	Microscopies sensibles à la surface : XPS par balayage, XPEEM, LEEM-PEEM, EPES
	Nouveaux développements

	Matériaux et systèmes aux frontières
	Matériaux bi-dimensionnels
	Hétérostuctures multiferroïques
	Epitaxie avancée
	Bio-surfaces
	...

	Applications
	Matériaux fonctionnels
	Nouvelles technologies de l’énergie
	Catalyse et fonctionnalisation de surface
	Micro- et nanoélectronique
	...

Focus thématique

Un Focus Thématique dédié aux approches théoriques et modélisations des spectres de photoémission a fait le point sur ces méthodes grâce à l'intervention de spécialistes du domaine, en insistant sur les liens entre calculs et expériences. Dans cette dernière partie des Journées, une place importante a été accordée aux échanges de manière à répondre aux questions des futurs utilisateurs.

	K-2V: Un nouvel outil spectroscopique pour l'analyse chimique. Stéphane Carniato LCPMR, Sorbonne Univ. Paris Résumé		Approches couplées spectroscopie XPS / chimie quantique: applications à l’étude de la réactivité chimique aux interfaces. Germain Vallverdu IPREM, Univ. Pau Résumé
	Importance du fond continu inélastique dans l’analyse de spectres XPS Nicolas Pauly Université libre de Bruxelles, Belgique Résumé